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產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：OTSUKA大塚電子晶圓非破壞性測厚儀

  • 產(chǎn)品型號：SF-3/200 SF-3/300 SF-3/800 SF-3/1300
  • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價格：0
  • 折扣價格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3晶圓非破壞性測厚儀SF-3以超高速實時和高精度測量晶圓和樹脂的非接觸研磨和拋光過程。SF-3/200 SF-3/300 SF-3/800 SF-3/1300
詳情介紹：

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3晶圓非破壞性測厚儀SF-3以超高速實時和高精度測量晶圓和樹脂的非接觸研磨和拋光過程。

OTSUKA大塚電子SF-3/200 SF-3/300 SF-3/800 SF-3/1300

OTSUKA大塚電子SF-3特征：


  • 非接觸式、非破壞性厚度測量
  • 反射光學元件（可從一側(cè)接觸進行測量）
  • 高速（*快5kHz）和實時評估
  • 高穩(wěn)定性（重復精度0.01%以下）
  • 耐粗糙
  • 可在任何距離使用
  • 支持多層結(jié)構(gòu)（*多 5 層）
  • 內(nèi)置NG數(shù)據(jù)抑制功能
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3 



它支持廣泛的薄膜厚度范圍，并實現(xiàn)高波長分辨率。
大冢電子的獨特技術(shù)被封裝在一個緊湊的機身中。

 

特點2：高速響應

由于它甚至可以以**的間距進行測量，即使是移動的測量對象，
它也是工廠生產(chǎn)線的理想選擇。


特點3：與各種表面條件的樣品兼容

通過約φ20μm的微小光斑，即使在各種表面條件下也可以
測量厚度。

 

特點4：兼容各種環(huán)境

由于可以從*遠200 mm的距離進行測量，因此可以根據(jù)目的和應用構(gòu)建
測量環(huán)境。

 

測量項目
  • 厚度測量（5層）

 

用
  • 各種厚膜厚度

 

OTSUKA大塚電子SF-3/200 SF-3/300 SF-3/800 SF-3/1300



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