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產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：OTSUKA大塚電子 粒徑量測儀ELSZ-2000ZS

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價格：0
  • 折扣價格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹：
特殊長度 *新的高靈敏度APD實現(xiàn)了更高的靈敏度和更短的測量時間 通過自動溫度梯度測量可以進行退化/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進行測量 增加了廣泛的分子量測量和分析功能 支持懸浮高濃度樣品的粒徑和 zeta 電位測量 測量電池中的電滲流，并通過繪圖分析提供高度準確的 zeta 電位測量結(jié)果。 支持高鹽濃度溶液的zeta電位測量 支持小面積樣品的平板zeta電位測量 采用 非常適合在界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、制藥、醫(yī)藥等領(lǐng)域中，不僅涉及微粒子，而且還涉及薄膜、平板等表面科學的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究。 新型功能材料領(lǐng)域 燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯、功能薄膜、催化劑、納米金屬）生物納米 相關(guān)（納米膠囊、樹枝狀大分子、DDS、生物納米顆粒）、納米氣泡等。 陶瓷/著色材料 工業(yè)領(lǐng)域 陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等） 表面改
詳情介紹：

規(guī)格

測量原理 粒度 動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）
Zeta 電位 電泳光散射法（激光多普勒法）
分子量 靜態(tài)光散射法
光學系統(tǒng) 粒度 零差光學系統(tǒng)
Zeta 電位 外差光學
分子量 零差光學系統(tǒng)
光源 大功率半導體激光器
探測器 高靈敏度 APD
細胞 對于 zeta 電位：標準池、一次性微量池或濃縮池
對于粒度/分子量：方形電池
溫度 0～90℃（帶梯度功能）
電源 100V±10% 250VA
尺寸（寬高） 380 (W) x 600 (D) x 210 (H)
重量 22 公斤

 

測量項目
Zeta 電位 -200 至 +200 毫伏
電動汽車 -2 x 10 -5至 2 x 10 -5 cm 2 / V ? s
粒度 0.6 納米至 10 微米
分子量 360～2×10 7

● 測量范圍

測量溫度范圍 0-90℃
測量濃度范圍 粒徑：0.00001% (0.1ppm) -40% * 1
Zeta電位：0.001% -40%

* 1 (Latex112nm: 0.00001 ~ 10%, ?；悄懰? ~ 40%)

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